泰勒SURTRONIC DUO粗糙度仪

• 更新时间：2017-06-22
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泰勒SURTRONIC DUO粗糙度仪
型号：SURTRONIC DUO
探头系统：探头系统
表面粗糙度测量范围：199μm，40μm
扫描路径：5mm
表面粗糙度分辨率：0.01μm
阈值波长：0.8 mm

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泰勒SURTRONIC DUO粗糙度仪

笃挚仪器（上海）有限公司介绍

销售机电产品、机械设备、自动化设备、环保设备、电线电缆、汽摩配件、建材、金属材料及制品、五金交电、仪器仪表、通讯产品及器材、办公用品、计算机软硬件及辅助设备（除计算机信息系统安全产品）、橡塑制品，商务信息咨询，投资管理，机电设备维修，计算机、机械设备专业领域内的技术咨询、技术服务。

DOOZ INSTRUMENT (SHANGHAI) CO., LTD.is an instruments and equipment supplier and service provider specialized in mechanical measurement machine, materials chemical composition, physical performance testing and analysis.

Since her inception, she has provided thousands of equipment to hundreds of business units, research institutes, laboratories and professional quality service Units. User base includes iron and steel metallurgy, nonferrous metals, metal recycling, aerospace, rail transportation, precision machinery factory, automotive electronics, home appliances and other fields.

After years of development, DOOZ has created a wealth of experience in sales and after-sales service team, which have got a very high reputation in our manufacturers and customers.

笃挚仪器代理的英国泰勒霍普森粗糙度测量装置SURTRONIC DUO，具有内部进料单元的移动粗糙度测量装置，小巧便携，通用功能，用户友好的界面，适合地板等表面粗糙度测量。

泰勒SURTRONIC DUO粗糙度仪

型号：SURTRONIC DUO
探头系统：探头系统
表面粗糙度测量范围：199μm，40μm
扫描路径：5mm
表面粗糙度分辨率：0.01μm
阈值波长：0.8 mm
数据传输类型：USB

应用：
用户友好的移动粗糙度测量装置，用于参数Ra，Rz，Rp，Rv，Rt，Rz1max，R3z（戴姆勒DB N 31007），Rsk，Rq和Rku的标准粗糙度测量。

执行：
3.7“彩色液晶显示屏，zui多显示4个测量值
拆分显示和进纸单元
两台机器之间的蓝牙连接（zui大距离2米）
粗糙度参数符合DIN ISO和ASME标准
显示主要轮廓/参数Pa，Pz，Pp，Pv和Pt
集成滑盖式探头，金刚石为5μm
可以通过迷你USB端口充电
 

优点：
InstantOn，从待机模式到测量模式只需5秒钟
操作简单直观，无需培训
测量值保存到下次测量为止
电池寿命每次充电可达3000次测量